标准编号：SJ/T 11399-2009
标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法
英文名称： Measurement methods for chips of light emitting diodes
资料大小：
标准页数：11
发布日期：2009-11-17
实施日期： 2010-01-01
标准状态：现行
发布部门：工业和信息化部
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司
替代情况：
更新日期：2022-07-12
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