SJ 21473.2-2018军用集成电路电磁抗扰度测量方法第2部分：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法 - 电子行业标准(SJ)

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SJ 21473.2-2018军用集成电路电磁抗扰度测量方法第2部分：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法

标准编号：SJ 21473.2-2018
标准名称：军用集成电路电磁抗扰度测量方法第2部分：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法
英文名称：
资料大小：
标准页数：24
发布日期：2018-12-29
实施日期：2019-03-01
标准状态：现行
发布部门：SJ 21473 2-2018 军用集成电路电磁抗扰度测量方法第2部分：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法
起草单位：
替代情况：
更新日期：2022-06-30
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标准简介

SJ 21473.2-2018 军用集成电路电磁抗扰度测量方法第2部分：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法

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