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标准编号：GB/T 36655-2018
标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
英文名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
标准状态：现行
标准格式：PDF
起草单位：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司
起草人员：封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪
标准简介：
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。