下载点数：50点
标准编号：GB/T 4937.11-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
标准状态：现行
标准格式：PDF
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人员：张天福、高金环、彭浩、李树杰、于学东、崔波、裴选、迟雷、张艳杰
标准简介：
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化——双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化——双液槽法试验时，优先采用空气-空气温度循环试验。
本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。
本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。
本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。