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标准编号：QJ 10004-2008
标准名称：宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
英文名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
发布部门：国防科学技术工业委员会
发布日期：2008-02-16
实施日期：2008-06-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：22页
起草单位：中国航天科技集团公司第五研究院物资部、中国航天标准化研究所
标准简介：
本标准规定了采用钴60γ射线对字航用半导体器件（以下简称器件）进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。
本标准适用字航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。


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